Mikroskopia sił atomowych (AFM)

Pracownia dysponuje mikroskopem ze skanującą sondą SPM produkcji Veeco (Digital Instrument). W skład systemu wchodzą: kontroler NanoScope IIIa i Quadrex, mikroskop MultiMode, skaner typu E z maksymalnym obszarem skanowania 10x10x2,5µm.

Zestaw pracuje jako mikroskop sił atomowych AFM oraz skaningowy mikroskop tunelowy STM z atomową rozdzielczością.

Dostępne techniki pracy:

• STM skaningowy mikroskop tunelowy,
• Contact Mode, mikroskop sił atomowych w trybie kontaktowym,
• Tapping Mode, mikroskop sił atomowych w trybie przerywanego kontaktu,
• TRmode, mikroskssp sił atomowych mierzący siły poprzeczne,
• EFM, mikroskop sił atomowych do pomiaru potencjału elektrycznego,
• FM, mikroskop sił atomowych z modulacją siły.

Wyposażenie dodatkowe:

• uchwyt do pracy w cieczach,
• cylinder osłony środowiskowej,
• zestaw do pomiaru nanozarysowań i nanowgnieceń.

Ewentualne opłaty za wykonanie analiz są uzgadniane indywidualnie w zależności od: cech próbki, liczby powiększeń, konieczności specjalnego przygotowania próbki do analizy itp.

W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt z:
mgr Mariolą Krawitowską
tel: (56) 611-48-32
e-mail: m.krawitowska@umk.pl

Zlecenie na analizę dla studentów i pracowników Wydziału Chemii UMK:

Zlecenie-AFM (112 KB)